一、產品介紹
XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗箱廣泛使用于航空航天
二 型號 XF/WDCJ-100L XF/WDCJ-225L XF/WDCJ-500L XF/WDCJ-010L 工作室尺寸D×W×H 450×450×500 600×600×600 800×800×800 1000×1000×1000 外型尺寸D×W×H 1560×870×1545 1710×1020×1845 1910×1220×2265 2110×1420×2665 樣品區(qū)尺寸D×W×H 250×250×250 400×400×450 600×600×600 800×800×750 功率(KW)A/B/C 13/15/17 15/17/18 18/21/21 20/24/27 性能 溫度范圍 A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃ 溫度波動 高溫室及低溫室均±2℃ 樣品區(qū)溫度波動 ±0.5℃(恒溫時) 樣品區(qū)承重 30kg 30kg 50kg 60kg 溫濕度運行控制系統(tǒng) 控制器 進口LED數顯(P·I·D +S·S·R)微電腦集成控制器 精度范圍 設定精度:溫度0.1℃ 制冷系統(tǒng) 進口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組/原裝法國“泰康"/全封閉風冷復迭壓縮制冷方式 循環(huán)系統(tǒng) 耐溫低噪音空調型電機.多葉式離心風輪 溫度轉換時間 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S 溫度恢復時間 ≤5min(與溫度恢復條件有關 溫度沖擊方法 垂直兩箱法(兩箱式冷熱沖擊試驗箱 三 GB11158-2008高溫試驗箱技術條件 GB10589-2008低溫試驗箱技術條件 GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件(溫度交變) GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007) GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007) GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14) GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗GJB150.5-1986溫度沖擊試驗
指標